注明:貼片電感機(jī)器視覺(jué)檢測(cè)設(shè)備,均需在影像下清晰可見(jiàn)才能檢測(cè)。檢測(cè)效率:每分鐘檢測(cè)數(shù)量 不低于200件(取決于產(chǎn)品送料速度)。
一、檢測(cè)內(nèi)容及要求
檢測(cè)內(nèi)容:
最大尺寸長(zhǎng)14mm*寬14mm*高6mm的產(chǎn)品的外觀檢測(cè)
序號(hào) |
檢測(cè)位置 |
檢測(cè)方式 |
是否可檢 |
1 |
殘缺、裂紋 |
正光檢測(cè) |
可檢 |
2 |
劃痕、劃傷 |
正光檢測(cè) |
可檢 |
3 |
端子不良 |
正光檢測(cè) |
可檢 |
4 |
臟污、異物 |
正光檢測(cè) |
可檢 |
5 |
露銅 |
正光檢測(cè) |
可檢 |
注明:貼片電感機(jī)器視覺(jué)檢測(cè)設(shè)備,均需在影像下清晰可見(jiàn)才能檢測(cè)。
檢測(cè)效率:每分鐘檢測(cè)數(shù)量 不低于200件(取決于產(chǎn)品送料速度)。
二、設(shè)備組成及主要機(jī)構(gòu)
設(shè)備型號(hào):SP-T300標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)設(shè)備 外形尺寸:900*800*1850mm
組成部件清單:
序號(hào) |
部件名稱 |
規(guī)格型號(hào) |
數(shù)量 |
1 |
視覺(jué)檢測(cè)軟件 |
SIPOTEK |
1套 |
2 |
工業(yè)電腦 |
SIPOTEK定制 |
1套 |
3 |
顯示器 |
PHILIPS 19”液晶顯示器 |
1臺(tái) |
4 |
工業(yè)相機(jī) |
Barsler工業(yè)相機(jī) |
6套 |
5 |
相機(jī)調(diào)節(jié)模組 |
SIPOTEK定制 |
6套 |
6 |
工業(yè)鏡頭 |
FA高清光學(xué)工業(yè)鏡頭 |
6套 |
7 |
光源 |
定制光學(xué)自適應(yīng)光源 |
6套 |
8 |
檢測(cè)平臺(tái) |
專業(yè)光學(xué)玻璃載臺(tái) |
1套 |
9 |
伺服電機(jī) |
松下·PANASONIC |
1套 |
10 |
控制系統(tǒng) |
SIPOTEK定制 |
1套 |
11 |
PLC運(yùn)動(dòng)協(xié)作 |
松下·PANASONIC |
1套 |
設(shè)備外觀3D立體圖
樣件測(cè)試圖片:
底部正光檢測(cè)原圖:
底部正光檢測(cè)良品分析圖:OK
底部正光檢測(cè)不良品分析圖:NG 不良原因:破損
底部正光檢測(cè)不良品分析圖:NG 不良原因:端子反向
底部正光檢測(cè)不良品分析圖:NG 不良原因:臟污
底部正光檢測(cè)不良品分析圖:NG 不良原因:裂紋
頂部正光檢測(cè)良品分析圖:OK
頂部正光檢測(cè)不良品分析圖:NG 不良原因:端子發(fā)黑
頂部正光檢測(cè)不良品分析圖:NG 不良原因:端子不平
頂部正光檢測(cè)不良品分析圖:NG 不良原因:裂紋
頂部正光檢測(cè)不良品分析圖:NG 不良原因:端子反向
頂部正光檢測(cè)不良品分析圖:NG 不良原因:邊緣破損
頂部正光檢測(cè)不良品分析圖:NG 不良原因:殘缺
正面正光檢測(cè)良品分析圖:OK
正面正光檢測(cè)不良品分析圖:NG 不良原因:端子不平
側(cè)面正光檢測(cè)良品分析圖:OK
側(cè)面正光檢測(cè)不良品分析圖:NG 不良原因:露銅
反正面正光檢測(cè)良品分析圖:OK
反正面正光檢測(cè)不良品分析圖:NG 不良原因:裂紋
反側(cè)面正光檢測(cè)良品分析圖:OK
反側(cè)面正光檢測(cè)不良品分析圖:NG 不良原因:端子發(fā)黑
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